红外膜厚仪基于红外滤波片技术制造，专业为工业和科研环境使用而设计。它图形化显示油膜厚度，可选参数和校准选择等选项，更为直观地给出油膜厚度结果，方便操作。测量*不破坏油膜和基底。适用于润滑或防腐保护油膜，干润滑剂或其他有机酸涂层。有一种*的方法来确保此仪器处于可靠运算状态。这种取得的方法是基于使用包含稳定的样品薄膜的基准样片。用户可以通过本基准样片很容易的检查仪器的响应。
红外膜厚仪仪器组成和测量原理：
由激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统组成。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化。
利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现非接触式测量薄膜类材料的厚度。当射线穿过被测材质时，一部分射线被材质吸收导致强度减弱，利用这一原理来检测被测物质的厚度。被测材质位于放射源和核探测器之间，射线穿过被测材质后进入核探测器，其强度将有所衰减。对于同一种材质，厚度越大，则射线的衰减越大。
红外膜厚仪进行测量时有哪些注意事项：
周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
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