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双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪
CALPAS-TERMINAL (Calpas-T)介绍
上下360°照射,杂质无处藏身
AI智能识别程序 & 双探头筛分系统
异物检测对于产品质量控制,获得客户信任至关重要。对于产品控制而言,异物检测不仅仅能提升样品的外观质量,更能提高材料的安全性和可靠性。目前市场上的设备在控制异物方面还有一定的局限性,但是异物检测的需求却日益增长。
与此同时,对于异物检测,客户往往对检测速度有着较高的要求,在速度与准度的平衡中,高速的检测通常会降低检出率。另外,市场上对于微小异物的检出需求越来越高,要求设备不断的降低小检出尺寸来满足要求,这对设备的精度又提出了更高的要求,要求在快速检测的流程中设备能够准确的筛选出微小的异物粒子。
为了满足这一需求,Scigentec公司推出了CALPAS-TERMINAL。CALPAS-TERMINAL基于高速托盘筛分代替传统的重力筛分,大大减少了物料损失。
双探头照明系统可以从样品两侧实时测量,保证测量结果的稳定性和全面性,小检测直径可达10微米。
在测量过程中,我们往往会遇到因为颗粒特性而造成的光学误差(如阴影、透射、反射等),CALPAS AI 程序(可选)可以帮助设备识别因产品原因造成的光学误差,提高准确率,并配合转盘筛分系统实现高效、准确、快速去除异物的目的。
CALPAS-TERMINAL双探头测量筛分系统针对50微米的异物颗粒,可以达到200千克/时的检测速度,是一款使用简单、检测高效的终端质量控制设备。
产品特点
可选配置
双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪
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